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更新时间:2026.08.15
基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计

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针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪。详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想。DSP模块负责高速数据采集与运算。ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯。采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量。系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差。能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R。仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求。

电容测试仪论文

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word 文档 可复制编辑 电容测试仪 摘 要 本系统以 51单片机为控制核心,通过 555构成的脉冲发生器,产生 150ms, 占空比约为 100%的触发脉冲作为单稳态电路的输入。根据单片机控制选择不同 量程的电容值进行切换,测量脉冲宽度,从而求出 1000PF—1UF电容。 Abstract The single-chip microcomputer system for the control of the core 51 through 555 constitute the pulse generator, resulting in 150ms, duty cycle of approximately 100% of the trigger pulse monostable circuit as input. Single-chip control in accordan

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