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更新时间:2026.04.11
同步辐射软X光Al衰减膜透射率的测量

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分参数测量Al衰减膜的质量厚度和氧化层后,通过计算到了Al膜的透过率。为检验计算结果的正确性,在北京同步辐射软X光反射率装置上进行Al衰减膜透过率的直接测量。二者的结果在最大偏差11%范围内符合。

便携式γ射线照射装置散射辐射测量

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"影锥法"是实验上定量测量散射大小的常用方法,具体做法是采用适当大小的铅块放置在放射源和探测器之间,铅块应足够厚,以便能完全遮挡放射源对探测器的直射贡献,此时探测器所记录的辐射剂量率全部来自于散射,进而能定量得出散射光子的辐射剂量,图1为"影锥法"装置实例,测量结果列于表1。由表1可知,"影锥法"测量的散射辐射剂量率占总剂量率的不足1%,满足GB/T 12162.1—2000的设计要求。

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