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更新时间:2026.04.18
红外探测器暗电流测试方法研究

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在红外集成光电系统中,暗电流及其噪声作为衡量探测器性能的关键指标,在工程上对其进行实际测试具有重要的意义。从工程角度提出了红外探测器暗电流的测试及分析方法。其主要思想是在红外成像系统中,通过改变黑体温度及积分时间,得到不同的拟和曲线,进而通过本文提出的方法计算出探测器的暗电流。

光电倍增管暗电流和单光电子响应

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PMT参数优劣对闪烁体探测器性能至关重要。依据PMT的工作原理,建立PMT单光电子响应(SER)函数,搭建实验装置,完成PMT响应实验测试,在常温环境下测试了滨松CR194 PMT暗电流和单光电子信号。数字信号利用Roofit、Origin软件进行处理,得到暗电流和单光电子幅度值随高压变化的曲线图。分析图表,可得结论:在600~1 200 V之间,CR194 PMT暗电流响应幅度值或SER幅度值随工作电压的增加而增加。电压为1 000 V时,PMT的稳定性最好,1 000 V为实验的最佳工作电压。

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