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更新时间:2026.04.11
回波损耗与结构回波损耗

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回波损耗作为评价电缆阻抗均匀性的指标,一直在电缆行业内广泛应用,然而很多国内电缆出 口企业在与国外厂商接触中,发现国外客户更多地提出用结构回波损耗而非回波损耗来衡量电 缆的好坏,如美国、澳大利亚等国。那么回波损耗和结构回波损耗有什么区别呢 ? 根据美国标准结 ANSI/SCTE 03 2003 及 ASTM D 4566 ,结构回波损耗 SRL 的定义为: SRL =结构回波损耗, dB; Z in =输入阻抗(复数), Ω Zavg=平均阻抗(复数), Ω 根据标准: R i=电缆各个频率点下输入阻抗的实部; X i=电缆各个频率点下输入阻抗的虚部; Ravg =电缆所有测试点实部的平均值; Xavg =电缆所有测试点虚部的平均值。 根据 IEC 61196 或 GB/T 17737 标准,回波损耗 RL 的定义为: RL =回波损耗, dB, ZT=终端接标称阻抗时的输入端阻抗(复数

荧光灯测试仪

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Fluke 1000FLT荧光灯测试仪可以避免在荧光灯维修过程中的猜测工作,在30秒内即可完成所有必要的测试:灯管测试、镇流器测试、非接触电压测试、灯脚连通性测试、镇流器类型辨别。避免在维修工作中需要重复试错,提高维修团队修复照明灯的工作效率。

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