造价通
更新时间:2026.04.18
电容器介质损耗因数试验

格式:pdf

大小:328KB

页数: 2页

www.kv-kva.com 电容器介质损耗因数试验 电容器介质损耗因数和电容器绝缘介质的种类、 厚度、浸渍剂的特性以及制 造工艺有关。电容器 tanδ 的测量能灵敏地反映电容器绝缘介质受潮、 击穿等绝 缘缺陷,对制造过程中真空处理和剩余压力、引线端子焊接不良、有毛刺、铝箔 或膜纸不平整等工艺的问题也有较灵敏的反应, 所以说电容器介质损耗因数是电 容器绝缘优劣的重要指标。 耦合电容器介质损耗因数测试方法: (1) 采用正接线测量时, 先将被试电容器对地放电并接地, 拆除被试电容器对 外所有一次连接线,电容器法兰接地,打开小套管接地线并与 Cx 端相连 接,高压引线接至电容器高压电极,取下接地线,检查接线无误后,通知 www.kv-kva.com 其他人员远离被试品并监护。 合上试验电源, 从零开始升压至测试电压进 行测试,测试电压为 10KV。测试完毕后先将电压降到零,然后读取测量 数

微管光缆试验时的感应损耗研究

格式:pdf

大小:458KB

页数:

在这项研究中,Telenor挪威科技公司的相关科研人员根据传输网光缆的要求,对微管光缆进行了试验。研究显示,关于张力和温度试验极限值,微管光缆具有可接受的性能。然而,在对由12mm外径和10Hun内径(12/10mm)管道保护的微管光缆进行螺杆压扁试验过程中,结果却令人无法接受。研究显示,单根光纤在张力试验过程中的损耗增加具有大的变化,这不仅与光纤MAC数量略微相关,而且取决于光缆结构及材料细节。在温度试验中,观察到单根光纤衰减增加的范围同样很显著,与光纤MAC数量的相关性也更加明显。在螺杆/钢板试验中观察到的损耗增加具有统计性,幅度大且范围广。所有试验均揭示出1550nm、1625nm和1642nm下附加损耗之间的特性比。

最新知识

介质损耗试验
点击加载更多>>
专题概述
介质损耗试验相关专题

分类检索: