文章首先对测试基准电路ITC’02的产生背景进行了介绍,然后就文件书写格式、系统芯片命名规则、应用范围以及测试问题的分类等进行了比较详细的介绍和剖析,分析了该基准的统计特性,并对其应用现状做了比较详细的考察;为集成电路可测性设计相关研究与开发人员提供了一个新的测试基准参考。
导 线 点 一 览 表 承包单位: 合同号: 监理单位: 编 号: 测表 1 点 号 坐 标 高 程 位 置 X Y H DD24 观测: 计算: 复核: 测量专业监理工程师: 水准点一览表 承包单位: 合同号: 监理单位: 编 号: 测表 2 点 号 高 程( m) 位 置 观测: 计算: 复核: 测量专业监理工程师: 水准测量记录表 承包单位: 日 期: 监理单位: 合同号: 工程名称 : 工程部位 : 编 号: 测表 3 测 点 水 准 尺 读 数 视线高 高 程 (m) 设计高程 (m) 偏差值 (mm) 备注 后视 中间点 前视 观测: 记录: 计算: 水准测量成果计算表 工程名称: 日 期: 承包单位: 合同号: 监理单位: 编 号: 测 表 4 水准 点号 距 离 (m) 测站 数 高 差(m) 高 程 (m