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更新时间:2026.04.18
高分断能力低压熔断器中的弧后电流研究

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对 Cu 、 Ag 、 Al 三种不同金属熔体制成的高分断能力低压熔断器样品进行了弧后电流的测试研究。研究结果表明,弧后电流是在电流瞬时开断后出现,并随时间而迅速减小,由此而可以推导出弧后电阻随时间的增加而增加。从试验中还观察到银熔体的弧后电阻大于铜熔体和铝熔体的现象。

基于伏安曲线的熔断器熔断电流的无损检测

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调节熔断器电流的同时测量熔断器两端的电压,获得待测熔断器的U-I曲线并计算出U-R曲线,对比两种曲线分析了熔断机理和规律,发现当熔断器的U-I曲线开始偏离直线时表示其即将熔断,此时所对应的电流可以较准确地表征待测熔断器的实际熔断电流。U-I曲线检测方法简便并且对待测样品几乎无损,实验表明经过该法检测合格的熔断器可以更安全可靠地工作。

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