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更新时间:2026.04.18
测试服务指引-苏州中科集成电路设计中心苏州中科集成电路设计中心

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测试服务指南 Suzhou CAS IC Design Center 苏州中科集成电路设计中心 Page 1 of 2 测试服务指南 ( IC 测试部) 1. 测试服务类型 1.1 测试技术服务 9 IC 验证测试:在硅芯片级和系统级上进行 IC 验证和调试,查找设计和工艺问题引 起的芯片错误 9 IC 特性测试: IC 特性分析,为 IC Datasheet 提供数据 9 IC 生产测试: IC 产品测试和筛选 9 IC 测试程序开发 9 DIB 设计和制作 9 测试技术支持 ? 测试向量转换 ? 测试技术咨询 ? DFT (可测试性设计)和 DFD(可调试性设计)设计咨询 9 测试技术培训 ? 测试方法、测试设备、测试开发、测量等基础技术培训 ? 测试机台技术培训 ? 测试程序开发技术培训 1.2 测试机时租赁 9 V93000 数字、模拟和混合信号集成电路测试系统 9

CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计

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讨论了3种常用的CMOS集成电路电源和地之间的ESD保护电路,分别介绍了它们的电路结构以及设计考虑,并用Hspice对其中利用晶体管延时的电源和地的保护电路在ESD脉冲和正常工作两种情况下的工作进行了模拟验证。结论证明:在ESD脉冲下,该保护电路的导通时间为380ns;在正常工作时,该保护电路不会导通,因此这种利用晶体管延时的保护电路完全可以作为CMOS集成电路电源和地之间的ESD保护电路。

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