介绍了多晶Si薄膜的成膜机理及其在集成电路中的应用,针对沟槽功率MOSFET集成电路制造中两种主流多晶Si工艺的优点和不足进行了分析和对比。从栅氧化层厚度分布和Arriving Angle模型两个方面分析了沟槽中多晶Si空洞的形成机制。阐述了金属通过多晶Si空洞穿透Si衬底导致器件失效的理论,并通过失效器件的FIB分析对理论加以证实。最后基于Arriving Angle模型理论,在试验中改变沟槽顶端和底部宽度,将沟槽刻蚀成倒梯形的结构,以多晶Si填充沟槽经历高温退火工艺再进行SEM分析。分析结果证实,改变沟槽顶端和底部宽度可彻底消除沟槽中多晶Si的空洞,提高器件的可靠性。
针对直槽沟埋式刚性管道,建立了直线滑移面土压力计算模型,基于双剪统一强度理论,推导出了新的土压力计算公式。与传统的土压力计算方法相比较,新的土压力计算方法可以考虑中间主应力对管道土压力的影响,土压力理论计算值更为接近管道的实际受力情况。结合工程实例计算分析,揭示了开槽宽度、上覆土层厚度等对管顶土压力的影响规律。所得结论,对管道工程的优化设计具有一定的指导意义。
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