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更新时间:2026.06.13
基于蒙特卡罗方法的α放射源能谱测量模拟

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运用蒙特卡罗方法建立PIPS-α谱仪的腔室模型,模拟谱仪对α面源(238Pu)的能谱测量,通过改变放射源与探头之间的距离,模拟不同条件下α粒子的射线能谱,同时,对不同探源距条件对α射线能谱的影响进行分析;另一方面,使用谱仪在不同探源距的情况下进行α能谱实验测量,获得不同条件下α射线能谱;最后,将模拟与实验的结果进行对比,分析实验测量结果与模拟结果的相对误差,并对模拟过程及模型参数进行校正,对校正后的模型进行实验验证,使其能够应用到其他α放射源的能谱测量中,并且使其可用于单能α粒子的能谱研究,研究结果也可为α能谱测量技术提供依据,为α能谱解谱技术提供数据支持。

用蒙特卡罗方法模拟直接转换X射线探测器的响应特性

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采用Monte Carlo方法模拟了HgI_2、非晶Se和CdTe几种直接X射线转换探测器在医用X射线范围(10—100keV)的透过谱、背向散射谱、吸收效率和光电灵敏度.对X射线和HgI_2的作用过程模拟采用了EGSmc Monte Carlo代码系统,对信号电荷的产生考虑了电荷产生的高斯噪声和材料深陷阱作用造成的部分电荷收集影响.结果表明,载流子平均自由程(Schubweg)在相对于探测材料厚度较小时,陷阱作用能很大地影响探测灵敏度.HgI_2的灵敏度是非晶Se的5倍以上,CdTe的灵敏度是非晶Se的10倍以上,采用高Z序数材料可以大大提高探测灵敏度.

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