華容電子 (昆 山)有限公司 標準編號 : C-06-114-X3C0550 版 次 頁 數 日 期 發行編號 1 5 2007.10.21 標準 承認 校 對 製 表 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 德律 AOI 操作指導書 華容電子 (昆山 )有限公司 [文件修訂記錄表 ] 文件名稱 : 德律 AOI 操作指導書 文件編號 : C-06-114-X3C0550 版 本 變 更 內 容 頁 (數) 次 (發行) 變更日期 製 表 校 對 標 準 承 認 E C N 編號 連絡書編號 1 首次發行 5 2007/10/21 華容電子 (昆山 )有限公司 文件名稱 德律 AOI 操作指導書 適用 全公司
Stencil AOI 系统设计 (作者) 昆山思拓机器系统有限公司 昆山 215347 [摘要 ] 本文从 AOI技术的研究现状及发展趋势出发, 介绍了 Stencil AOI系统主要技术特点, 阐 述了 Stencil AOI系统组成, 针对Stencil检测对 AOI提出的特殊要求, 重点介绍了 Stencil AOI系统 设计过程,提出了 Stencil AOI系统设计的一般方法和设计中应该注意的主要问题,最后给出 了本公司自主研发的 Stencil AOI技术在 Stencil检测中的应用实例,形成自身的技术优势。 关键词 : Stencil AOI ;系统设计 引言 自动光学检测( AOI,Automated Optical Inspection)技术是运用机器视觉及图像处理 技术对被测对象的位置、 尺寸、形状、方位和目标间相互关系等参数进行自动测量的综合性 技术。目前,由于