据日本《电子材料》1992年第2期报道,日本电气公司为了能在90年代中期实现批量生产256M和64M等半导体快速存储器,率先开发出4种类型存储单元的关键技术,1991年12月在美国华盛顿召开的IEDM会议上公开发表。研制的主要技术有:
试基础——术语 括一下内容: 测试目的 测试术语 测试工程学基本原则 基本测试系统组成 PMU(精密测量单元)及引脚测试卡 样片及测试程序 术语 半导体测试的专业术语很多,这里只例举部分基础的: 被实施测试的半导体器件通常叫做 DUT(Device Under Test,我们常简称“被测器件”),或者叫 UUT(Unit Unde 我们来看看关于器件引脚的常识,数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 脚,包括输入、输出、三态和双向四类, 输入:在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道; 输入管脚感应其上的电压并将它转化为内部逻辑 输出:在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲作用的信号输出通道; 输出管脚提供正确的逻辑 “0”或“1”的电压,并 流)。 三态:输出的一类,它有关闭的能力(达到高电阻值的状态)。 双向:拥有输入、输出功能并能达到高阻态的管脚。 脚,“电