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更新时间:2026.04.18
超声波相控阵斜探头检测PE管电熔接头研究

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超声波在聚乙烯中衰减系数比金属约高十倍或更多,给PE电熔接头超声波相控阵检测带来困难。介绍了超声波相控阵斜探头检测PE管电熔接头的时机、分辨能力、探头频率、试块、检测范围和耦合剂等。

碳化硅专利分析-单晶,晶片和外延片制造研究报告

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北京佐思信息咨询有限责任公司 Beijing OKOKOK Information Consulting Co.,Ltd 北京佐思 www.okokok.com.cn 地址:北京市海淀区长远天地 C座 3-502 #, 100080 碳化硅专利分析 -单晶,晶片和外延片制造研究报告 ——SiC Patent Analysis single crystal, wafer and epiwafer manufacturing 1772 patent families to support a $80M business in 2012 ⋯ 1772 PATENT FAMILIES TO SUPPORT A $80M BUSINESS IN 2012⋯ Despite a cumulative raw wafers + epi wafers market that won’t exceed

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